产品详情

臻迈_HITACHI镀层厚度分析仪X-STRATA920

产品概述：
X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。
X-Strata920可同时测定最多5层、25种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

产品性能和标准：
使用广受推崇的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术， X-Strata920可实现如下测试要求： 
符合ISO3497标准测试方法：金属镀层X射线光谱法测量镀层厚度。
符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层。
同时分析25种元素。

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