臻迈_日立XRF RoHS元素分析仪EA1000AIII-X射线荧光元素分析仪-臻迈电子-昆山臻迈电子科技有限公司

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臻迈_日立XRF RoHS元素分析仪EA1000AIII

EA1000AIII的优势：
大幅度的提高吞吐量

　　●　使用半导体检测器/SDD检测器

　　●　分析线自动切换

　　●　采用精度管理软件

提高操作性

　　●　材料判断功能

　　●　波峰的自动解析和结果考察

　　●　数据的集中管理

管理元素的增加

　　●　多元素对应

EA1000AIII功能特点：
当含有元素的波峰重合时，仪器会自动根据统计误差进行判断，自动选择最适合的分析线。

通过预存测量类别样品的材质，自动选择分析条件。

分析条件:为了正确的分析测量物质，对必要的设定条件，有害物质的浓度基准等根据不同的样品材质进行设定。

EA1000AIII技术规格：

概述	测定原理：X射线荧光分析法测定方法：能量色散型测定对象：固体、液体、粉状测定范围：铝(₁₃Al) ~ 铀(₉₂U)
X射线源	小型空冷式X射线管:Rh靶 X射线照射方向: 下方垂直照射型管电压: 5~50kv 管电流: 1~1000μA 冷却方式: 空冷(包括风扇) 照射面积: φ1mm, φ3mm, φ5mm （3种自动交换）一次滤光片：5种可切换(含OPEN)
检测器	类型：Si半导体检测器/ Vortex®SDD硅漂移探测器（均无需液氮）制冷方式：电子制冷计数方式：数字滤光片计数处理分辨率：小于285 eV
样品室	样品尺寸：最大 W370mm x D320mm x H120mm 样品观察：彩色CCD摄影机测定气氛：大气
数据处理部	主机：PC/AT互换机内存：4GB（32bit） HDD：500GB以上分辨率：1024*768点以上 CD: CD-ROM驱动 OS: Windows7(32bit)
软件	筛选分析：简单操作软件定性分析：检测/解析软件定量分析：工作曲线法 (Cd、Pb、Hg、Br、Cr、Cl) 块体分析FP法、薄膜分析FP法应用性: 自动校正功能（能量校正，半峰宽校正）时间节省功能:自动判别材质，自动选择分析程式分析结果建表功能分析结果报告书创建功能
其他	温度条件：10℃-30℃（温度变化在2℃以内）湿度条件：40%-70%（不结霜）电源：AC100V-240V±10%,5A，带地线插座装置尺寸：W520mm×D600mm×H445mm 装置重量：60Kg